| 结构形貌表征 | 谱学表征 |
| 成份分析 | 物性测量 |
|
设备 |
类型 |
图片 |
|
高分辨透射电子显微镜 |
JEOL–2010 |
|
|
透射电子显微镜 |
H—800 |
|
|
场扫描电镜 |
Sirion200 |
|
|
场发射扫描电子显微镜 |
JSM—6700F |
|
|
超高分辨透射电子显微镜 |
JEOL—2011 |
|
|
高真空扫描探针显微镜系统 |
SPA-300HV &SPI3800N |
|
|
18KW转靶X射线衍射仪 |
MXPAHF型 |
|
|
X射线衍射仪 |
X′Pert PRO |
|
|
旋转阳极X射线衍射仪 |
D/Max-rA |
|
|
四圆单晶X射线衍射仪 |
Gemini S Ultra |
|
谱学表征：
|
设备 |
类型 |
图片 |
|
激光拉曼光谱仪 |
RAMANLOG 6 |
|
|
激光共焦显微拉曼光谱仪 |
LABRAM-HR |
|
|
电子顺磁共振波谱仪 |
JES-FA200 |
|
|
稳态寿命荧光谱仪 |
FLUOROLOG-3-TAU |
|
|
傅立叶变换红外光谱仪 |
MAGNA-IR 750 |
|
|
电子能谱仪 |
ESCALAB MK II |
|
|
高性能电子能谱仪 |
ESCALAB 250 |
|
|
超导傅立叶数字化 |
AVANCE AV 400 |
|
|
脉冲傅立叶变换核磁共振谱仪 |
FX-90Q |
|
成份分析：
|
设备 |
类型 |
图片 |
|
感应耦合等离子体质谱仪 |
Plasma Quad 3 |
|
|
感应耦合等离子体 |
Atomscan Advantage |
|
|
M850荧光分光光度计 |
M850 |
|
|
X射线荧光光谱仪 |
VF―320 |
|
|
X射线荧光光谱仪 |
XRF-1800 |
|
|
原子吸收光谱仪 |
AAnalyst 800 |
|
|
深紫外-可见-近红外分光光度计 |
DUV—3700 |
|
|
气相色谱-飞行时间质谱连用仪 |
GCT |
|
|
元素分析仪 |
VARIO ELIII |
|
|
高效液相色谱仪 |
LC-20AD |
|
|
原子荧光光度计 |
AFS—230a |
|
物性测量：
|
设备 |
类型 |
图片 |
|
热分析仪 |
DTG-60H、DSC-60 |
|
|
热膨胀仪 |
DIL 402 C |
|
|
微量差示扫描量热仪 |
VP-DSC |
|
|
全自动微孔物理吸附和化学吸附分析仪 |
ASAP 2020 M+C |
|
|
精密SQUID磁学测量系统 |
MPMS XL－7 |
|
